HATS™镀通孔可靠性测试技术早在2003年就得以使用,且在实际使用中已经有超过8000个试样设计。多年来,也发表了很多关于该技术及其优势的论文。点击以下链接阅读HATS™的相关问答或者下载由系统生成的测试报告示例,或查看发表的有关HATS™技术论文示例。
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